Ruiz Rosero, Jose Eduardo (2013) Caracterización del desplazamiento de un disco piezoeléctrico en función del voltaje con corrección de histéresis y arrastre mediante un control en lazo cerrado, utilizando interferometría. Project Report. Universidad de Nariño, Pasto.
Text
85846.pdf Download (1MB) |
Resumen
En este proyecto se realiza el control PI en lazo cerrado del desplazamiento de un disco piezoeléctrico para efectuar correcciones de histéresis y arrastre. Se implementa un interferómetro de Michelson que permite realizar mediciones de desplazamiento a micro y nano escalas; y se crea una interfaz de usuario que establece la comunicación entre el dispositivo y el PC para la adquisición de datos y posterior análisis de estos. Con el fin de obtener una medida de la confiabilidad de los datos obtenidos por el interferómetro construido, junto con la eficiencia del controlador PI, se procede a caracterizar el instrumento con el microscopio de fuerza atómica AFM Asylum Ressearch MFP-3D-BIO del laboratorio de microscopía de la Universidad de los Andes en Bogotá Colombia. El sistema final tiene la capacidad de desplazar el disco piezoeléctrico una distancia determinada por el usuario con una resolución de 1nm y un rango de +/- 1950 nm. Se describen en esta investigación los bloques que conforman el diseño final, las pruebas realizadas para la medición de los desplazamientos, los resultados obtenidos y las conclusiones.
Tipo de Elemento: | Monografía (Project Report) |
---|---|
Información Adicional: | Director: Ing. M.Sc. Darío Fernando Fajardo Asesor: Ing. M.Sc. Juan Pablo Ruiz Rosero |
Palabras Clave: | interferómetro, controlador PI, AFM Asylum Ressearch MFP-3D-BIO, desplazamientos |
Asunto: | T Tecnología > T Technology (General) T Tecnología > TA Engineering (General). Civil engineering (General) |
Division: | Facultad de Ingeniería > Programa de Ingeniería Electrónica > Trabajos de grado |
Depósito de Usuario: | Monitor Biblioteca 3 Quijano Guerrero |
Fecha Deposito: | 21 Nov 2023 15:42 |
Ultima Modificación: | 21 Nov 2023 15:42 |
URI: | http://sired.udenar.edu.co/id/eprint/10085 |
Ver Elemento |